晶振會在什么情況下沒有信號輸出
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請拆下晶振并使用專業測試機測試其頻率和負載電容,看它們是否振動并符合您的規格.您也可以將其發送給您的供應商,讓他們為您進行測試.
請使用示波器或頻率計測量晶體兩端輸出的信號.如果沒有信號輸出,請按照步驟1-1至步驟1-4執行檢查.如果晶體的輸出端（Xout）有信號輸出,而輸入端（Xin）沒有信號輸出,請按照步驟1-5到步驟1-6檢查晶體.
等效電路測試西鐵城晶振,CM315D32768DZFT進口晶振,表晶振32.768KHZ
微處理器的振蕩電路一般來源于Colpitts電路,如下圖所示:Cd和Cg為外部負載電容,已內置在芯片組中.（請參考芯片組的規格）
Rf 為反饋電阻,200KΩ~1MΩ.它通常內置在芯片組中.
Rd是470Ω~1KΩ的限位電阻.該電阻對于普通電路不是必需的,而僅適用于具有高電源的電路.

一個穩定的振蕩電路需要一個負電阻,其值至少應為晶體電阻的五倍.可以寫成|-R|>5Rr.
例如,要獲得穩定的振蕩電路,當晶振電阻值為40Ω時,IC的負電阻值必須在Ω200Ω以下.
如果石英晶振參數正常,但在振蕩電路內工作不穩定,我們就得看看IC的電阻值是否太低, 無法驅動電路.如果是這種情況,我們有三種方法可以改善這種情況:

降低外部電容（Cd 和 Cg）的值,并采用負載電容（CL）較低的其他晶振.

采用電阻（Rr）較低的晶體.

使用不等值Cd和Cg的設計.我們可以增加Cd（Xout）的負載電容并減少Cg（Xin）的負載電容,以提高Xin的波形幅度輸出,用于其后端電路.
除了上述1-5的方法外,還可以按照步驟1-4-4的三種方法進行.如果您的問題無法解決,請聯系晶體或IC制造商的現場應用工程師以獲得進一步的幫助.
“負電阻”是評價一個振蕩電路好壞的標尺.在某些情況下,如老化、熱變化、電壓變化等,如果”Q”值較低,電路可能不會振蕩.因此,按照以下說明測量負電阻(-R)非常重要:

( 1 )將電阻(R)與晶體串聯
( 2 )將R的值從起點調整到振蕩的停止點.
( 3 )測量振蕩過程中的R值.
( 4 )你將能夠獲得負電阻的值,|R|=R+Rr,并且Rr=晶體電阻.
PS連接電路的雜散電容可能會影響測量值.
當Xout有信號輸出而Xin沒有輸出時,表示后極Backend Circuit的功耗非常大.我們可以在電路的輸出和它的后電極之間添加一個緩沖器來驅動后端電路.

如果出現以下任何一種情況,晶體不振動,負載電容不符合您的規格,或者當前頻率與您的目標頻率有很大差距,請將晶體發送給您的供應商進行質量分析.如果頻率和負載電容符合您的規格,我們將需要進行等效電路測試.
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